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以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置

● 采用分光干涉法● 搭載高精度FFT膜厚解析系統（專zhuan利 第4834847號）● 使用光學光纖，可靈活構筑測量系統● 可嵌入至各種制造設備。● 實時測量膜厚● 可對應遠程操作、多點測量● 采...

PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進行原位檢測，實時解析。與SAXS和SANS的裝置相比...

以最zui高機型MCPD-9800為首，一共有3種對應12波長領域的測量儀。 我們可以根據客戶的需求和用途提出最適shi合的方案。 不同評價方法對應不同設備

nanoSAQLA是一臺通過動態光散亂法（DLS法）測量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內的多檢體測定的新光學系統，實現了實驗室必需的輕量、小型化、標準1分鐘的高...

●1個單元可輕松連續測量5個樣品。●實現了在沒有自動進樣器的情況下難以實現的多個樣品的連續測量，也可以通過改變每個樣品的條件進行測量。●標準測量時間為1分鐘的高速測量，通過自動調整從濃縮樣品到稀釋樣品...

●支持長達 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量●還支持有機EL和大型顯示器的光分布測量●可以自動控制2軸測角儀測量每個角度的光譜分布，并通過球帶系數法獲得總光譜通量、總光通量、色度、色溫等...

該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線到可見光和可見光到紅外線的寬波長范圍

●非接觸式、非破壞性光學式膜厚檢測●采用分光干涉法實現高度檢測再現性●可進行高速的即時研磨檢測●可穿越保護膜、觀景窗等中間層的檢測●可對應長工作距離、且容易安裝于產線或者設備中●體積小、省空間、設備安...

MINUK是一種可以評估納米量級的透明異物和缺陷的設備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無損、非接觸、非侵入性地進行測量。此外，還可以高速掃描任何表面并確定測量位置，而無需對焦。

本產品為粒徑及zeta電位測量專用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據用途，可以根據需要定制任意數量的必要功能。

● 可根據用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網眼結構分析、粒徑多角度測定)● 可以用標準流動池連續測量粒徑和zeta電位● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的...