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| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
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多層膜厚解析
光學薄膜（超硬涂層、AR薄膜、ITO等）
FPD相關（光刻膠、SOI、SiO2等）
半導體晶圓的面內分布測量
玻璃基板的面內分布測量
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