產(chǎn)品中心
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測量精度高可瞬間測量絕對量子效率（絕對量子收率）可去除再激勵熒光發(fā)光 采用了積分半球unit，實現(xiàn)了明亮的光學系統(tǒng)
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薄膜到厚膜的測量范圍UV~NIR光譜分析 高性能的低價光學薄膜量測儀藉由絕對反射率光譜分析膜厚完整繼承FE-3000高gao端機種90%的強大功能無復雜設定，操作簡單
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可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數(shù)。除了支持包括下一代尺寸在內(nèi)的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。
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●全面高速高精度進行薄膜等面內(nèi)膜厚不均一性檢測●硬件&軟件均為創(chuàng)新設計●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援●實現(xiàn)高精度測量（已取得專zhuan利）●實現(xiàn)高速測量（500萬點以上/分）
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●采用線掃描方式檢測整面薄膜●硬件&軟件均為創(chuàng)新設計●作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援●實現(xiàn)高精度測量（已獲取專zhuan利）●實現(xiàn)高速測量●不受偏差影響●可對應寬幅樣品（TD方向最大可測量...
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●通過分光光度分布對紫外光進行高精度測量●從配光上評估紫外光的最大發(fā)光強度、光束開度、光束光通量●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●支持從 LED 芯片到模塊和應用產(chǎn)品的廣泛樣品●用軟件批量控制電源和測...
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●該檢測器是一種高性能的分光光度計，在光源測量、反射/透射測量、過程測量等方面取得了多項成果。●覆蓋從紫外線到可見光的寬波長范圍●帶軟件的樣品照明電源，測量儀器批量控制●LIV測量，脈沖點測量，樣品溫...
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●具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍●具有紫外線自吸收校正的高精度測量●配備溫度控制單元，可從-110°C進行溫度控制●涵蓋從紫外線到可見光的波長范圍●電源、溫控單元、測量儀軟件批量控制
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采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應液晶line內(nèi)的檢查設備
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采用了偏光光學系和多通道分光檢出器有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板安全對策和粒子對策，可對應液晶line內(nèi)的檢查設備
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●可在紫外和可見（250至800nm）波長區(qū)域中測量橢圓參數(shù)●可分析納米級多層薄膜的厚度●可以通過超過400ch的多通道光譜快速測量Ellipso光譜●通過可變反射角測量，可詳細分析薄膜●通過創(chuàng)建光學...
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●可處理高達2400mm的直管光學總光通量測量●測量系統(tǒng)符合IESNA的LM-79和LM-80標準●采用新的探測器，可以進行廣動態(tài)范圍的測量●測量部分的尺寸（積分球或積分半球）從φ25...
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