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  • LEIModel1605非接觸遷移率測試系統

    LEIModel1605，是非接觸遷移率測試系統，可對各種半導體材料和器件結構進行測試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。

    更新日期：2024-09-26
    型號：LEIModel1605
    廠商性質：生產廠家
  • LEI88非接觸方塊電阻測試系統

    LEI88 是針對科研類客戶開發的產品，具備非接觸快速測試方塊電阻和電導率功能。

    更新日期：2024-09-26
    型號：LEI88
    廠商性質：生產廠家
  • 非接觸Hall和方塊電阻測試系統

    非接觸Hal和方塊電陽測試系統，可對GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導體材料設計的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器件結構進行測試。

    更新日期：2024-09-26
    型號：
    廠商性質：生產廠家
  • SRP 擴展電阻測試

    SRP 測試系統，采用擴展電阻率技術(SRP)，對載流子濃度和電阻率隨深度的變化做快速測試。

    更新日期：2024-09-26
    型號：
    廠商性質：生產廠家
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