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| 品牌 | OTSUKA/日本大冢 |
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對應總光通量測量的所有要求
全光束測量系統總括
●總光通量[JISC7801：2009/JISC8152：2007] ●光譜總輻射通量（光譜）
●顏色匹配標準差（SDCM）
●色度坐標（U，V）[CIE1960UCS] ●色度坐標（X，Y）[JISZ8724：1997] ●色度坐標（U’V’）[CIE1976UCS] ●相關色溫與Duv[JISZ8725：1999] ●主波長（Dominant）和激發純度（Purity）[JISZ8701：1999] ●顯色評價數（RA，R1?R15）[JISZ8726：1990]
●可以改變光源的照明方向，因此可在實際使用條件下進行測量
●排除積分空間以外的發光部件，消除吸收誤差
●積分空間的一半亮度（靈敏度）為兩倍
●適用于表面發射光源的總光通量測量
●樣品溫度調節方便，因為除了發光表面外，它可以放置在整體半球外面
（也對應高功率光源）
●可消除樣品光源本身陰影的影響，是測量大樣品的理想選擇
（可對應積分球直徑的1/3）
●與整體半球形規格一樣，可以測量2400mm的直管光源
●使用帶輔助燈泡的積分球，可補正自我吸收
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