產(chǎn)品中心
當(dāng)前位置：首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 半導(dǎo)體材料測(cè)試 > CV測(cè)試 > LEI Model2017B汞探針測(cè)試
簡(jiǎn)要描述：LEI Model2017B，通過(guò)汞探針接觸方法，對(duì)各類(lèi)半導(dǎo)體材料的載流子濃度分布進(jìn)行測(cè)試，特別適合GaN.SiC等化合物材料。
產(chǎn)品型號(hào)：LEI Model2017B廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時(shí)間：2024-09-26訪 問(wèn) 量：95產(chǎn)品中心
相關(guān)文章
詳細(xì)介紹
| 品牌 | 波銘科儀 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,食品,生物產(chǎn)業(yè),綜合 |
可提供多個(gè)肖特基結(jié)構(gòu)
特殊設(shè)計(jì)的肖特基接觸，使串聯(lián)電阻最小。
精確的真空控制
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展，上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度，客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力，不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。
產(chǎn)品咨詢
在線留言
公司地址：上海市浦東新區(qū)疊橋路456弄?jiǎng)?chuàng)研智造J6區(qū)202室
公司郵箱：qgao@buybm.com
微信客服
