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| 品牌 | 波銘科儀 |
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High sensitivity 高靈敏度
C-V characterization 深能級C-V測試
Capture cross section measurement 俘獲界面測試
Optical injection 光注入
Conductance transient measurements 瞬態電導測試
Sample quality test by I-V, C-V I-V/C-V 基礎測試
Cryostats LN2,低溫致冷
上海波銘科學儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統、晶萃光學機械和光學平臺、激光器、Edmund 光學元件、Newport 產品、濱松光電探測器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學測試系統、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級相機、Semilab 半導體測試設備及高低溫探針臺系統。經過多年的發展，上海波銘科學儀器有限公司在市場上已取得了一定的地位。我們的產品和服務在行業內具有較高的知zhi名度和美譽度，客戶遍布全國。我們將繼續努力，不斷提升市場地位和影響力。
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