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簡(jiǎn)要描述:原子力顯微鏡使用非常小的探針,掃描樣品表面,在原子尺度探測(cè)樣品形貌。Semilab的AFM設(shè)備,可靈活配置和測(cè)試,具備優(yōu)異測(cè)試穩(wěn)定性和可靠性。
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品牌 | 波銘科儀 |
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Surface topography 表面形貌
Electrical properties 電學(xué)性質(zhì)
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Magnetically properties 磁學(xué)性質(zhì)
上海波銘科學(xué)儀器有限公司主要提供光譜光電集成系統(tǒng)、晶萃光學(xué)機(jī)械和光學(xué)平臺(tái)、激光器、Edmund 光學(xué)元件、Newport 產(chǎn)品、濱松光電探測(cè)器、卓立漢光熒光拉曼光譜儀、是德 Keysight 電學(xué)測(cè)試系統(tǒng)、大塚 Otsuka 膜厚儀、鑫圖科研級(jí)相機(jī)、Semilab 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備及高低溫探針臺(tái)系統(tǒng)。經(jīng)過多年的發(fā)展,上海波銘科學(xué)儀器有限公司在市場(chǎng)上已取得了一定的地位。我們的產(chǎn)品和服務(wù)在行業(yè)內(nèi)具有較高的知zhi名度和美譽(yù)度,客戶遍布全國(guó)。我們將繼續(xù)努力,不斷提升市場(chǎng)地位和影響力。
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